广东服务zeta电位及纳米粒度仪销售厂家

Zeta电势电位原理：1.什么是ZETA电势电位：Zeta电位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。2.STERN双电子层：胶核表面拥有一层离子，称为电位离子，电位离子通过静电作用，把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围，被吸引的离子称为反离子，越靠近胶核表面的地方反离子越密集，相反，越远的地方反离子越稀疏，他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此，整个胶团是处于电中性状态，而胶核表面电势是醉高的，根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。3.DLS散射系统如何测ZETA电位：目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。NicompZ3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。技术优势：6、复合型算法：相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换。广东服务zeta电位及纳米粒度仪销售厂家

小知识——光电倍增管（PMT)光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。小知识——光电二极管（APD)光电二极管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极(photocathode)，几个二次发射极(dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在100到200伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，然后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。广东质量zeta电位及纳米粒度仪处理方法Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来。

    小知识——光电倍增管（PMT)光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。小知识——光电二极管（APD)光电二极管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极(photocathode)，几个二次发射极(dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在100到200伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，然后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。

        Nicomp380系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；检测范围：粒径范围0.3nm-10.0μm/ZETA电位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户节省检测成本。检测范围：粒径范围 0.3nm-10.0μm/ZETA电位 +/- 500mV。

Nicomp多峰分布概念：基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列仪器的两个主要特点，Nicomp创始人DaveNicole很早就认识到传统的动态光散射理论只给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创的Nicomp多峰分布理论，提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。Nicomp多峰分布优势Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不只可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。Nicomp多峰分布概念： 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器的两个主要特点。广东质量zeta电位及纳米粒度仪处理方法

技术优势：1、PMT高灵敏度检测器。广东服务zeta电位及纳米粒度仪销售厂家

Nicomp380系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：动态光散射仪（DynamicLightScattering,DLS）/ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）；检测范围：粒径范围0.3nm-10.0μm/ZETA电位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户节省检测成本。广东服务zeta电位及纳米粒度仪销售厂家